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資料の状態
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No. |
資料番号 |
資料種別 |
請求記号 |
配架場所 |
状態 |
貸出
|
1 |
0002790889 | 図書一般 | 549.3/ヘネ91/ | 書庫 | 貸出可 |
○ |
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書誌情報サマリ
タイトル |
テスタブルな論理回路の設計
|
人名 |
R.G.ベネッツ/著
|
人名ヨミ |
R G ベネッツ |
出版者・発行者 |
啓学出版
|
出版年月 |
1991.7 |
書誌詳細
この資料の書誌詳細情報です。
書誌種別 |
図書 |
タイトル |
テスタブルな論理回路の設計 |
タイトルヨミ |
テスタブル ナ ロンリ カイロ ノ セッケイ |
人名 |
R.G.ベネッツ/著
原田 章美/訳
|
人名ヨミ |
R G ベネッツ ハラダ アキヨシ |
出版者・発行者 |
啓学出版
|
出版者・発行者等ヨミ |
ケイガク シュッパン |
出版地・発行地 |
東京 |
出版・発行年月 |
1991.7 |
ページ数または枚数・巻数 |
215p |
大きさ |
21cm |
価格 |
¥2427 |
ISBN |
4-7665-0545-X |
注記 |
原タイトル:Design of testable logic circuits |
注記 |
文献:p201〜211 |
分類記号 |
549.3
|
件名 |
論理回路
|
内容紹介 |
従来、テストに関連した問題にはデザイナーは関与しない傾向にあったが、集積回路とシステムの業界ではデザインとテストの結合が顕著になってきている。本書では、現在使われているテスタブルな論理回路の主な設計手法について詳しく解説する。 |
言語区分 |
jpn |
タイトルコード |
1005010151832 |
目次
内容細目
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