蔵書情報
この資料の蔵書に関する統計情報です。現在の所蔵数 在庫数 予約数などを確認できます。
資料の状態
各蔵書資料に関する詳細情報です。
No. |
資料番号 |
資料種別 |
請求記号 |
配架場所 |
状態 |
貸出
|
1 |
0015117302 | 図書一般 | 549.8/ニカ20/ | 2F自然 | 貸出可 |
○ |
この資料に対する操作
カートに入れる を押すと この資料を 予約する候補として予約カートに追加します。
いますぐ予約する を押すと 認証後この資料をすぐに予約します。
この資料に対する操作
電子書籍を読むを押すと 電子図書館に移動しこの資料の電子書籍を読むことができます。
書誌情報サマリ
タイトル |
半導体デバイスの不良・故障解析技術
|
人名 |
二川 清/編著
|
人名ヨミ |
ニカワ キヨシ |
出版者・発行者 |
日科技連出版社
|
出版年月 |
2019.12 |
書誌詳細
この資料の書誌詳細情報です。
書誌種別 |
図書 |
タイトル |
半導体デバイスの不良・故障解析技術 |
シリーズ名 |
信頼性技術叢書 |
タイトルヨミ |
ハンドウタイ デバイス ノ フリョウ コショウ カイセキ ギジュツ |
シリーズ名ヨミ |
シンライセイ ギジュツ ソウショ |
人名 |
二川 清/編著
上田 修/著
山本 秀和/著
|
人名ヨミ |
ニカワ キヨシ ウエダ オサム ヤマモト ヒデカズ |
出版者・発行者 |
日科技連出版社
|
出版者・発行者等ヨミ |
ニッカ ギレン シュッパンシャ |
出版地・発行地 |
東京 |
出版・発行年月 |
2019.12 |
ページ数または枚数・巻数 |
8,218p |
大きさ |
21cm |
価格 |
¥3300 |
ISBN |
978-4-8171-9685-9 |
ISBN |
4-8171-9685-9 |
注記 |
文献:章末 |
分類記号 |
549.8
|
件名 |
半導体
/
信頼性(工学)
|
内容紹介 |
半導体デバイスの不良と故障について、基礎から最新情報まで幅広いレベルの内容を解説。それぞれの分野の側面を気軽に知ることができるコラム、「初級信頼性技術者」資格認定試験に出るような5択の演習問題も掲載。 |
著者紹介 |
1949年大阪市生まれ。大阪大学大学院基礎工学研究科物理系修士課程修了。工学博士。芝浦工業大学非常勤講師。信頼性技術功労賞など受賞。著書に「はじめてのデバイス評価技術」など。 |
言語区分 |
JPN |
タイトルコード |
1009812368066 |
目次
内容細目
関連資料
この資料に関連する資料を 同じ著者 出版年 分類 件名 受賞などの切り口でご紹介します。
もどる