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1 0015117302図書一般549.8/ニカ20/2F自然貸出可 

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書誌情報サマリ

タイトル

半導体デバイスの不良・故障解析技術

人名 二川 清/編著
人名ヨミ ニカワ キヨシ
出版者・発行者 日科技連出版社
出版年月 2019.12


書誌詳細

この資料の書誌詳細情報です。

書誌種別 図書
タイトル 半導体デバイスの不良・故障解析技術
シリーズ名 信頼性技術叢書
タイトルヨミ ハンドウタイ デバイス ノ フリョウ コショウ カイセキ ギジュツ
シリーズ名ヨミ シンライセイ ギジュツ ソウショ
人名 二川 清/編著   上田 修/著   山本 秀和/著
人名ヨミ ニカワ キヨシ ウエダ オサム ヤマモト ヒデカズ
出版者・発行者 日科技連出版社
出版者・発行者等ヨミ ニッカ ギレン シュッパンシャ
出版地・発行地 東京
出版・発行年月 2019.12
ページ数または枚数・巻数 8,218p
大きさ 21cm
価格 ¥3300
ISBN 978-4-8171-9685-9
ISBN 4-8171-9685-9
注記 文献:章末
分類記号 549.8
件名 半導体信頼性(工学)
内容紹介 半導体デバイスの不良と故障について、基礎から最新情報まで幅広いレベルの内容を解説。それぞれの分野の側面を気軽に知ることができるコラム、「初級信頼性技術者」資格認定試験に出るような5択の演習問題も掲載。
著者紹介 1949年大阪市生まれ。大阪大学大学院基礎工学研究科物理系修士課程修了。工学博士。芝浦工業大学非常勤講師。信頼性技術功労賞など受賞。著書に「はじめてのデバイス評価技術」など。
言語区分 JPN
タイトルコード 1009812368066



目次


内容細目

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549.8 549.8
半導体 信頼性(工学)
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