| 書誌種別 |
図書 |
| タイトル |
走査プローブ顕微鏡 |
| サブタイトル |
正しい実験とデータ解析のために必要なこと |
| シリーズ名 |
実験物理科学シリーズ |
| シリーズ番号 |
6 |
| タイトルヨミ |
ソウサ プローブ ケンビキョウ |
| サブタイトルヨミ |
タダシイ ジッケン ト データ カイセキ ノ タメ ニ ヒツヨウ ナ コト |
| シリーズ名ヨミ |
ジッケン ブツリ カガク シリーズ |
| シリーズ番号ヨミ |
6 |
| 人名 |
重川 秀実／責任編集
吉村 雅満／責任編集
河津 璋／責任編集
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| 人名ヨミ |
シゲカワ ヒデミ ヨシムラ マサミチ カワズ アキラ |
| 出版者・発行者 |
共立出版
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| 出版者・発行者等ヨミ |
キョウリツ シュッパン |
| 出版地・発行地 |
東京 |
| 出版・発行年月 |
2009.3 |
| ページ数または枚数・巻数 |
24,425p |
| 大きさ |
22cm |
| 価格 |
￥９０００ |
| ISBN |
978-4-320-03381-8 |
| ISBN |
4-320-03381-8 |
| 注記 |
文献:章末 |
| 分類記号 |
549.97
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| 件名 |
走査型プローブ顕微鏡
／
原子間力顕微鏡
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| 内容紹介 |
プローブ顕微鏡を使うために知っておきたいことや、プローブ顕微鏡の仕組み・周辺技術といった基礎的事項を説明。また、探針作製・評価、試料作製法、STS測定などの実践を解説する。分野ごとの先端技術も紹介。 |
| 著者紹介 |
工学博士。筑波大学大学院数理物質科学研究科物質創成先端科学専攻教授。 |
| 言語区分 |
jpn |
| タイトルコード |
1009811170606 |
| 目次 |
基礎編 プローブ顕微鏡を使う前に |
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Ⅰ.プローブ顕微鏡を使うために知っておきたいこと |
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第1章 回路を理解するための基礎 |
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1.1 制御の基礎／1.2 エレクトロニクス／文献 |
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第2章 信号を取り出すための基礎 |
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2.1 信号測定の基礎／2.2 雑音の基礎／2.3 微小信号・ロックイン計測／文献 |
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第3章 振動を扱うための基礎 |
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3.1 振動の運動方程式／3.2 カンチレバーにおける共振曲線／文献 |
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基礎編 プローブ顕微鏡を使う前に |
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Ⅱ.プローブ顕微鏡の基礎 |
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第1章 プローブ顕微鏡の仕組み |
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1.1 プローブ顕微鏡の動作原理／1.2 探針(または試料)位置の制御／1.3 除振について／文献 |
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第2章 プローブ顕微鏡のファミリー |
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2.1 各種プローブで得られる情報と分解能／2.2 同じプローブでも-測定方法による違い-／文献 |
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第3章 スペクトル測定の原理と留意点 |
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3.1 トンネル分光／3.2 力の分光／文献 |
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第4章 周辺技術 |
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4.1 真空の作り方と測り方／4.2 温度可変観察／4.3 薬品を扱うために／4.4 その他の技術／文献 |
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実践編 プローブ顕微鏡の使い方 |
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第1章 探針の作製と評価 |
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1.1 はじめに／1.2 探針の種類／1.3 アーティファクト／1.4 探針先端の評価／1.5 カーボンナノチューブ探針／文献 |
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第2章 試料の作り方・扱い方 |
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2.1 金属酸化物試料の扱い／2.2 平坦な金属基板の作製／2.3 有機分子試料測定のために／2.4 自己組織化膜の作り方／2.5 バイオ試料の扱い／文献 |
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第3章 信号の取り方 |
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3.1 測定に必要なパラメータ／3.2 測定条件と参照信号値の選択／3.3 変調測定:変調の種類と得られるデータ／3.4 外部同期を使うとできること／文献 |
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第4章 データ解析の方法 |
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4.1 はじめに／4.2 SPMデータの歪み／4.3 雑音の低減／4.4 明るさ軸の調整／4.5 物理量を引き出すために／4.6 その他の解析手法／文献 |
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第5章 SPMの理論シミュレーション法とその応用 |
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5.1 はじめに／5.2 STMシミュレーション法の原理／5.3 非接触AFMシミュレーション法の原理／5.4 液中AFM法の原理／5.5 タンパク質AFMシミュレーション／5.6 探針の設計と解析／5.7 おわりに／文献 |
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発展編 よりレベルの高い使い方をするための先端技術 |
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第1章 溶液中の計測 |
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1.1 電気化学STM／1.2 溶液環境におけるAFM測定／文献 |
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第2章 生体材料計測 |
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2.1 生体材料のプローブ顕微鏡計測でわかること／2.2 AFM・高速測定／文献 |
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第3章 高分子の弾性計測 |
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3.1 はじめに／3.2 ヘルツ接触／3.3 JKR接触／3.4 おわりに／文献 |
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第4章 デバイス特性評価への応用 |
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4.1 はじめに／4.2 不純物分布の観察／4.3 半導体試料内の電位分布の観察／4.4 電流フローの観測／4.5 おわりに／文献 |
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第5章 化学反応を観る |
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5.1 はじめに／5.2 STMを用いた実験方法／5.3 おわりに／文献 |
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第6章 相転移を観る |
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6.1 はじめに／6.2 低温測定／6.3 おわりに／文献 |
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第7章 スピンを測る |
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7.1 はじめに／7.2 SP-STMでスピンを見るための実験技術／7.3 交換相互作用力顕微鏡／おわりに／文献 |
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第8章 微細加工とSPM |
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8.1 はじめに／8.2 SPMによる加工法／8.3 SPM用カンチレバーに関連した加工法／8.4 おわりに／文献 |
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第9章 ステップインモード計測 |
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9.1 はじめに／9.2 AFM計測の課題／9.3 動作原理／9.4 測定例／9.5 おわりに／文献 |
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第10章 非接触AFMの展開 |
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10.1 はじめに／10.2 探針-試料間の相互作用の解析の試み／10.3 印加電圧に依存する相互作用力の考察／10.4 おわりに／文献 |
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第11章 光技術との融合 |
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11.1 NSOMの展開／11.2 STM発光分光／11.3 光STM／文献 |
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第12章 走査型アトムプローブ |
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12.1 はじめに／12.2 原理と構造／12.3 分析例／12.4 他の分析器との比較／12.5 おわりに／文献 |
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第13章 マルチプローブ計測 |
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13.1 はじめに／13.2 4探針STM装置の概要／13.3 4探針STMでの技術的課題／13.4 温度可変4探針STM装置／13.5 おわりに／文献 |
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第14章 原子・分子操作 |
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14.1 はじめに／14.2 固体電解質探針と原子スイッチ／14.3 STM誘起連鎖重合反応／14.4 おわりに／文献 |
