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書誌情報サマリ

タイトル

表面分析:SIMS

人名 D.ブリッグス/編
人名ヨミ D ブリッグス
出版者・発行者 アグネ承風社
出版年月 2003.7


書誌詳細

この資料の書誌詳細情報です。

書誌種別 図書
タイトル 表面分析:SIMS
サブタイトル 二次イオン質量分析法の基礎と応用
タイトルヨミ ヒョウメン ブンセキ シムス
サブタイトルヨミ ニジ イオン シツリョウ ブンセキホウ ノ キソ ト オウヨウ
人名 D.ブリッグス/編   M.P.シーア/編   志水 隆一/監訳   二瓶 好正/監訳   新SIMS研究会/訳
人名ヨミ D ブリッグス M P シーア シミズ リュウイチ ニヘイ ヨシマサ シン シムス ケンキュウカイ
人名ヨミ  
出版者・発行者 アグネ承風社
出版者・発行者等ヨミ アグネ ショウフウシャ
出版地・発行地 東京
出版・発行年月 2003.7
ページ数または枚数・巻数 429p
大きさ 21cm
価格 ¥8500
ISBN 4-900508-10-1
注記 原タイトル:Practical surface analysis.Volume2:Ion and neutral spectroscopy 原著第2版の抄訳
分類記号 428.4
件名 表面(工学)イオンビーム質量分析
内容紹介 二次イオン質量分析を中心に、スパッター中性粒子質量分析やイオン散乱分光法も包括した、SIMSの解説書。90年アグネ刊「表面分析」に続く第2弾。
言語区分 jpn
タイトルコード 1009810480988



目次


内容細目

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