書誌種別 |
図書 |
タイトル |
機器分析ハンドブック 3 固体・表面分析編 |
タイトルヨミ |
キキ ブンセキ ハンドブック コタイ ヒョウメン ブンセキヘン |
人名 |
宗林 由樹/編
辻 幸一/編
藤原 学/編
南 秀明/編
|
人名ヨミ |
ソウリン ヨシキ ツジ コウイチ フジワラ マナブ ミナミ ヒデアキ |
出版者・発行者 |
化学同人
|
出版者・発行者等ヨミ |
カガク ドウジン |
出版地・発行地 |
京都 |
出版・発行年月 |
2021.3 |
ページ数または枚数・巻数 |
8,196p |
大きさ |
21cm |
価格 |
¥2100 |
ISBN |
978-4-7598-2023-2 |
ISBN |
4-7598-2023-2 |
分類記号 |
433
|
件名 |
機器分析
|
内容紹介 |
化学研究に欠かせない分析機器の使い方を、初心者にもわかるよう平易に解説。3は、熱分析、原子吸光分析法、蛍光X線分析法、X線光電子分光法など、固体・表面分析に焦点を当てる。 |
言語区分 |
JPN |
タイトルコード |
1009812479702 |
目次 |
1章 熱分析 |
|
1.1 はじめに/1.2 熱測定の基礎/1.3 熱重量分析(TGA)/1.4 示差熱分析(DIA)と示差走査熱量測定(DSC)/1.5 おわりに |
|
2章 試料準備1 固体試料の溶解 |
|
2.1 はじめに/2.2 器具と試薬/2.3 試料溶液の調整(分解法)/2.4 試料溶液の調整(融解法)/2.5 おわりに |
|
3章 試料準備2 分離操作 |
|
3.1 はじめに/3.2 液液抽出法/3.3 固相抽出法/3.4 共沈法/3.5 その他の方法/3.6 おわりに |
|
4章 原子吸光分析法 |
|
4.1 はじめに/4.2 原理/4.3 測定可能元素/4.4 装置の概要/4.5 測光データの処理/4.6 共存物質の干渉と抑制/4.7 分析操作/4.8 試薬類,器具・環境の汚染対策/4.9 前処理/4.10 測定結果の見方と解析方法/4.11 おわりに |
|
5章 誘導結合プラズマ発光分析法(ICP-OES)・質量分析法(ICP-MS) |
|
5.1 はじめに/5.2 誘導結合プラズマ(ICP)の特徴/5.3 ICP発光分析法/5.4 ICP質量分析法(ICP-MS)/5.5 測定上の注意-ICP原子スペクトル分析における干渉-/5.6 おわりに |
|
6章 蛍光X線分析法 |
|
6.1 はじめに/6.2 蛍光X線の発生/6.3 蛍光X線分析で何が分かるか/6.4 蛍光X線分析の特徴/6.5 蛍光X線の分光方式/6.6 試料の準備/6.7 蛍光X線スペクトルの解釈/6.8 定量分析/6.9 いくつかのXRF装置の構成と利用例/6.10 おわりに |
|
7章 X線回折法 |
|
7.1 はじめに/7.2 粉末X線回折測定装置のあらまし/7.3 粉末X線回折装置の取り扱い方/7.4 試料の調製/7.5 結果の解析 |
|
8章 X線光電子分光法 |
|
8.1 はじめに/8.2 XPSの原理/8.3 XPS装置/8.4 XPS測定とデータ解析/8.5 おわりに |
|
9章 光学顕微鏡 |
|
9.1 はじめに/9.2 金属顕微鏡の構成/9.3 金属顕微鏡の原理/9.4 基本の操作法/9.5 各種観察法の使い方と特徴/9.6 何が見えるか/9.7 おわりに |
|
10章 電子顕微鏡(TEM,SEM,EPMA) |
|
10.1 はじめに/10.2 透過型電子顕微鏡/10.3 走査型電子顕微鏡/10.4 おわりに |
|
11章 プローブ顕微鏡 |
|
11.1 はじめに/11.2 SPMの原理/11.3 STMの原理/11.4 AFMの原理/11.5 カンチレバーの特性/11.6 フォースカーブ測定/11.7 摩擦力顕微鏡(FFM)/11.8 ダイナミックモード/11.9 ロックインアンプを用いた応用測定/11.10 SPM観察のコツ/11.11 おわりに |
|
付録 |
|
付録1 試料溶解に用いられる試薬およびその溶解反応/付録2 無機元素分析のための各種試料の溶解例/付録3 特性X線のエネルギー/付録4 電子の結合エネルギー |