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資料の状態
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| No. |
資料番号 |
資料種別 |
請求記号 |
配架場所 |
状態 |
貸出
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| 1 |
0013377122 | 図書一般 | 459.92/ｵｵ16/ | 2F自然 | 貸出可 |
○ |
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書誌情報サマリ
| タイトル |
X線・中性子による構造解析
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| 人名 |
大橋 裕二／編著
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| 人名ヨミ |
オオハシ ユウジ |
| 出版者・発行者 |
東京化学同人
|
| 出版年月 |
2015.12 |
書誌詳細
この資料の書誌詳細情報です。
| 書誌種別 |
図書 |
| タイトル |
X線・中性子による構造解析 |
| タイトルヨミ |
エックスセン チュウセイシ ニ ヨル コウゾウ カイセキ |
| 人名 |
大橋 裕二／編著
植草 秀裕／[ほか]著
|
| 人名ヨミ |
オオハシ ユウジ ウエクサ ヒデヒロ |
| 出版者・発行者 |
東京化学同人
|
| 出版者・発行者等ヨミ |
トウキョウ カガク ドウジン |
| 出版地・発行地 |
東京 |
| 出版・発行年月 |
2015.12 |
| ページ数または枚数・巻数 |
10,292p |
| 大きさ |
22cm |
| 価格 |
￥４４００ |
| ISBN |
978-4-8079-0798-4 |
| ISBN |
4-8079-0798-4 |
| 注記 |
文献:p284 |
| 分類記号 |
459.92
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| 件名 |
エックス線結晶学
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| 内容紹介 |
X線の回折現象発見と結晶構造解析の誕生の歴史や、直接法など、単結晶X線構造解析の原理を詳述。構造解析の実例、解析結果の整理の仕方、新たに登場した構造解析の方法論とその具体的な実例についても解説する。 |
| 言語区分 |
JPN |
| タイトルコード |
1009811967048 |
| 目次 |
第1章 結晶の周期性とX線 |
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1・1 近代結晶学の誕生／1・2 X線の発見と回折現象／1・3 回折と干渉／1・4 ラウエの発見-X線の正体と結晶の周期性／1・5 ブラッグの実験-NaClの結晶構造／1・6 X線の性質／1・7 新しいX線の誕生-放射光 |
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第2章 結晶とその対称性 |
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2・1 対称の要素-回転軸と回反軸／2・2 対称要素の組合わせと点群／2・3 結晶格子と格子点／2・4 七つの晶系／2・5 14の空間格子(ブラベ格子)／2・6 結晶面／2・7 晶帯と晶帯軸／2・8 点空間群-点群と空間格子の組合わせ／2・9 周期構造の対称／2・10 230の空間群／2・11 空間群の表現とその実例-空間群P21/cの例 |
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第3章 X線の回折と電子密度 |
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3・1 電磁波の性質とその表現／3・2 波の回折と干渉／3・3 1個の電子によるX線の散乱／3・4 n個の電子による散乱波の干渉／3・5 原子によるX線の散乱／3・6 分子によるX線の散乱／3・7 単位胞からの散乱／3・8 結晶からの散乱／3・9 ブラッグの結晶面からの反射の考え方／3・10 ラウエ法とブラッグ法／3・11 逆格子の考え方／3・12 逆格子と実格子の関係／3・13 ブラッグの条件／3・14 回折の条件-エワルドの回折球／3・15 フーリエ変換と電子密度 |
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第4章 回折強度の対称性と消滅則:空間群の判定 |
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4・1 フリーデル則／4・2 ラウエ対称／4・3 空間格子(ブラベ格子)の判定／4・4 らせん軸と映進面の判定／4・5 対称心の有無の判定／4・6 空間群の判定／4・7 間違いやすい空間群の判定 |
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第5章 回折強度と構造因子 |
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5・1 温度因子／5・2 ウィルソン統計と尺度因子／5・3 異方性熱振動／5・4 多重度と占有率／5・5 積分強度／5・6 消衰効果／5・7 二重散乱(レニンガー効果)／5・8 熱散漫散乱／5・9 長周期構造／5・10 異常散乱と絶対構造 |
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第6章 構造因子の位相の決定 |
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6・1 直接法／6・2 パターソン法／6・3 同形置換法／6・4 多波長異常散乱法／6・5 デュアルスペース法 |
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第7章 構造の精密化 |
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7・1 精密化の前提条件／7・2 最小二乗法による精密化／7・3 精密化に関する用語 |
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第8章 実際の構造解析:解析ソフトウェアの取扱いとCIFファイル |
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8・1 データ測定とデータ処理／8・2 初期構造の決定／8・3 構造の精密化Ⅰ-分子骨格の決定／8・4 構造の精密化Ⅱ-熱振動の解析／8・5 構造の精密化Ⅲ-水素原子の座標決定／8・6 束縛条件をつけた精密化／8・7 乱れた構造の解析／8・8 解析結果のチェック／8・9 解析結果のCIFファイルへの出力 |
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第9章 解析結果の整理 |
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9・1 結晶構造解析結果に必要な情報／9・2 構造解析結果の解釈 |
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第10章 中性子構造解析 |
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10・1 中性子の特徴／10・2 中性子の発生／10・3 中性子回折装置／10・4 中性子構造解析による構造決定／10・5 単結晶中性子構造解析を用いた研究例／10・6 中性子回折測定を行う前に |
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第11章 粉末構造解析 |
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11・1 粉末構造解析の発展／11・2 粉末構造解析が必要な理由／11・3 粉末結晶からのX線回折像とその特徴／11・4 粉末未知構造解析の手順／11・5 解析の実例／11・6 代表的なソフトウェア |
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第12章 薄膜の構造解析 |
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12・1 有機薄膜デバイスと薄膜構造解析／12・2 微小角入射X線回折法／12・3 微小角入射小角X線散乱法／12・4 X線反射率法 |
目次
内容細目
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