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資料の状態
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No. |
資料番号 |
資料種別 |
請求記号 |
配架場所 |
状態 |
貸出
|
1 |
0011452752 | 図書一般 | 549.8/ニカ12/ | 2F自然 | 貸出可 |
○ |
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書誌情報サマリ
タイトル |
はじめてのデバイス評価技術
|
人名 |
二川 清/著
|
人名ヨミ |
ニカワ キヨシ |
出版者・発行者 |
森北出版
|
出版年月 |
2012.9 |
書誌詳細
この資料の書誌詳細情報です。
書誌種別 |
図書 |
タイトル |
はじめてのデバイス評価技術 |
タイトルヨミ |
ハジメテ ノ デバイス ヒョウカ ギジュツ |
人名 |
二川 清/著
|
人名ヨミ |
ニカワ キヨシ |
版次 |
第2版 |
出版者・発行者 |
森北出版
|
出版者・発行者等ヨミ |
モリキタ シュッパン |
出版地・発行地 |
東京 |
出版・発行年月 |
2012.9 |
ページ数または枚数・巻数 |
11,179p |
大きさ |
22cm |
価格 |
¥2400 |
ISBN |
978-4-627-77442-1 |
ISBN |
4-627-77442-1 |
注記 |
初版:工業調査会 2000年刊 |
注記 |
文献:p169〜175 |
分類記号 |
549.8
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件名 |
半導体
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内容紹介 |
半導体デバイスのなかでも代表的なシリコン集積回路(IC)を取り上げ、機能・信頼性・故障の評価についてわかりやすくまとめる。具体例・応用事例も紹介。 |
著者紹介 |
大阪大学大学院基礎工学研究科修士課程修了。日本電気株式会社(NEC)勤務を経て、金沢工業大学大学院客員教授、大阪大学大学院特任教授。 |
言語区分 |
JPN |
タイトルコード |
1009811589351 |
目次
内容細目
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