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書誌情報サマリ

タイトル

LSI故障解析技術

人名 二川 清／著
人名ヨミ ニカワ キヨシ
出版者・発行者 日科技連出版社
出版年月 2011.9

書誌詳細

この資料の書誌詳細情報です。

書誌種別 図書
タイトル LSI故障解析技術
タイトルヨミ エルエスアイ コショウ カイセキ ギジュツ
人名 二川 清／著
人名ヨミ ニカワ キヨシ
版次 新版
出版者・発行者 日科技連出版社
出版者・発行者等ヨミ ニッカ ギレン シュッパンシャ
出版地・発行地 東京
出版・発行年月 2011.9
ページ数または枚数・巻数 10,194p
大きさ 21cm
価格 ￥３４００
ISBN 978-4-8171-9414-5
ISBN 4-8171-9414-5
注記 初版のタイトル等:LSI故障解析技術のすべて(工業調査会 2007年刊)
注記 文献:p181〜187
分類記号 549.7
件名 集積回路
内容紹介 LSIの故障解析技術に焦点を絞り、現在どのような技術が利用され、研究開発されているかについて、微細化、マージナル不良、タイミング不良などに対応するものに重点を置いて解説する。2007年以降の技術の変化に対応。
言語区分 JPN
タイトルコード 1009811473264



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