蔵書情報
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資料の状態
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No. |
資料番号 |
資料種別 |
請求記号 |
配架場所 |
状態 |
貸出
|
1 |
0010708543 | 図書一般 | 501.57/イシ11/ | 2F自然 | 貸出可 |
○ |
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書誌詳細
この資料の書誌詳細情報です。
書誌種別 |
図書 |
タイトル |
表面分析 |
シリーズ名 |
分析化学実技シリーズ |
シリーズ名 |
応用分析編 |
シリーズ番号 |
1 |
タイトルヨミ |
ヒョウメン ブンセキ |
シリーズ名ヨミ |
ブンセキ カガク ジツギ シリーズ |
シリーズ名ヨミ |
オウヨウ ブンセキヘン |
シリーズ番号ヨミ |
1 |
人名 |
石田 英之/[ほか]著
|
人名ヨミ |
イシダ ヒデユキ |
出版者・発行者 |
共立出版
|
出版者・発行者等ヨミ |
キョウリツ シュッパン |
出版地・発行地 |
東京 |
出版・発行年月 |
2011.8 |
ページ数または枚数・巻数 |
11,182p |
大きさ |
21cm |
価格 |
¥2900 |
ISBN |
978-4-320-04391-6 |
ISBN |
4-320-04391-6 |
分類記号 |
501.57
|
件名 |
工業分析
/
表面(工学)
|
内容紹介 |
赤外・ラマン分光法、X線光電子分光法、二次イオン質量分析法、飛行時間型二次イオン質量分析法を取り上げ、その原理と実際の応用例を中心に解説する。 |
著者紹介 |
大阪大学大学院基礎工学研究科化学系博士課程修了・工学博士。同大学特任教授。専門は物理化学、分子分光。 |
言語区分 |
JPN |
タイトルコード |
1009811461373 |
目次
内容細目
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