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資料の状態
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No. |
資料番号 |
資料種別 |
請求記号 |
配架場所 |
状態 |
貸出
|
1 |
0008720856 | 図書一般 | 433.57/キノ08/ | 2F自然 | 貸出可 |
○ |
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書誌情報サマリ
タイトル |
EPMA電子プローブ・マイクロアナライザー
|
人名 |
木ノ内 嗣郎/著
|
人名ヨミ |
キノウチ シロウ |
出版者・発行者 |
技術書院
|
出版年月 |
2008.9 |
書誌詳細
この資料の書誌詳細情報です。
書誌種別 |
図書 |
タイトル |
EPMA電子プローブ・マイクロアナライザー |
タイトルヨミ |
イーピーエムエー デンシ プローブ マイクロアナライザー |
人名 |
木ノ内 嗣郎/著
|
人名ヨミ |
キノウチ シロウ |
版次 |
新訂版 |
出版者・発行者 |
技術書院
|
出版者・発行者等ヨミ |
ギジュツ ショイン |
出版地・発行地 |
東京 |
出版・発行年月 |
2008.9 |
ページ数または枚数・巻数 |
14,345p |
大きさ |
26cm |
価格 |
¥4500 |
ISBN |
978-4-7654-7005-6 |
ISBN |
4-7654-7005-6 |
注記 |
EPMA関連の発達史:p328〜329 文献:p332〜337 |
分類記号 |
433.57
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件名 |
エックス線分光分析
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内容紹介 |
ミクロンオーダーに絞った電子プローブを固定物質に照射して、そこの微小部分から発生する特性X線、反射電子、二次電子、カソード・ルミネッセンス等を利用して元素分析や形態観察などをする装置、EPMAについて解説。 |
言語区分 |
jpn |
タイトルコード |
1009811110044 |
目次 |
1 原理と歴史 |
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1.1 原理/1.2 歴史 |
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2 電子と物質 |
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2.1 電子/2.2 X線/2.3 カソード・ルミネッセンス |
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3 装置の構成 |
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3.1 全体/3.2 電子光学系/3.3 光学顕微鏡/3.4 電子検出器/3.5 波長分散型X線分光法(WDS)/3.6 エネルギー分散型X線分光法(EDS)/3.7 コンピュータ・システム/3.8 真空装置 |
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4 分析の準備 |
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4.1 試料処理/4.2 分析試料/4.3 分析条件の設定/4.4 X線分光器の選択/4.5 分析法 |
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5 分析の実際 |
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5.1 定性分析/5.2 線分析/5.3 面分析/5.4 定量分析 |
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6 定量分析の補正 |
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6.1 補正計算/6.2 ZAF補正/6.3 BA補正 |
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7 保守 |
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7.1 電子光学系の軸合せ/7.2 タングステン・フィラメント/7.3 電子光学系のクリーニング/7.4 波長分散型X線分光器/7.5 エネルギー分散型X線分光器/7.6 真空装置 |
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8 付表 |
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8.1 元素の原子番号・原子量・密度・融点・沸点/8.2 K系列X線の波長とエネルギー/8.3 L系列X線の波長とエネルギー/8.4 M系列X線の波長とエネルギー/8.5 K・L吸収端と臨界励起エネルギー/8.6 M吸収端と臨界励起エネルギー/8.7 1/UとZを関数とする後方散乱因子/8.8 原子番号によるJ値と蛍光収率/8.9 Kα線の質量吸収係数/8.10 Lα線の質量吸収係数/8.11 Mα線の質徹吸収係数/8.12 被蛍光励起線がKα線である場合のJ(A)値/8.13 被蛍光励起線がLα線である場合のJ(A)値/8.14 K吸収端の短波長側での質量吸収係数/8.15 L吸収端の短波長側での質量吸収係数/8.16 α係数 |
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付録 |
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付.1 EPMA関連の発達史/付.2 EPMAに関する学会 |
目次
内容細目
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